Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices, Eric Garfunkel; Evgeni Gusev; Alexander Vul`


Варианты приобретения
Цена: 29209.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Eric Garfunkel; Evgeni Gusev; Alexander Vul`
Название:  Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
ISBN: 9780792350088
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 0792350081
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 507
Вес: 0.72 кг.
Дата издания: 31.03.1998
Серия: Nato Science Partnership Subseries: 3
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 27
Основная тема: Materials Science
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Features an extrapolation of ULSI scaling trends and indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of. This book is intended for expert scientists and engineers who wish to keep up with research, and students who wish to learn more about the basic research issues relevant to device technology.


Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices

Автор: Eric Garfunkel; Evgeni Gusev; Alexander Vul`
Название: Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
ISBN: 0792350073 ISBN-13(EAN): 9780792350071
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 41787.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices: Towards an Atomic Scale Understanding, St. Petersburg, Russia, August 4-8, 1997

Growth of High Permittivity Dielectrics by High Pressure Sputtering from Metallic Targets

Автор: Mar?a ?ngela Pampill?n Arce
Название: Growth of High Permittivity Dielectrics by High Pressure Sputtering from Metallic Targets
ISBN: 3319666061 ISBN-13(EAN): 9783319666068
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This thesis describes the fabrication of metal-insulator-semiconductor (MIS) structures using very high permittivity dielectrics (based on rare earths) grown by high-pressure sputtering from metallic targets.

Gaseous Dielectrics X

Автор: Loucas C. Christophorou; James K. Olthoff; Panayot
Название: Gaseous Dielectrics X
ISBN: 1461347459 ISBN-13(EAN): 9781461347453
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19564.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Electronic Phenomena in Adsorption and Catalysis on Semiconductors and Dielectrics

Автор: Vsevolod F. Kiselev; Oleg V. Krylov
Название: Electronic Phenomena in Adsorption and Catalysis on Semiconductors and Dielectrics
ISBN: 3642830226 ISBN-13(EAN): 9783642830228
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 10448.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The research done in this field will help to widen the scope of semi- conductor applications by finding novel ways of employing surface effects in the construct ion of mi croe 1 ectroni c devi ces, semi conductor gas ana lysers, solar cells, etc.

Materials Fundamentals of Gate Dielectrics

Автор: Alexander A. Demkov; Alexandra Navrotsky
Название: Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
ISBN: 9048167868 ISBN-13(EAN): 9789048167869
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 27251.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Dielectric Properties of Wood and Wood-Based Materials

Автор: Grigoriy I. Torgovnikov
Название: Dielectric Properties of Wood and Wood-Based Materials
ISBN: 3642774555 ISBN-13(EAN): 9783642774553
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Provided here is a comprehensive treatise on all aspects ofdielectric properties of wood and wood products. - Measurement of dielectric parameters ofwood.- Dielectric properties of oven-dry wood. - Effect of different kinds oftreatment on dielectric properties of wood.

Temperature and Frequency Dependence of Complex Permittivity in Metal Oxide Dielectrics: Theory, Modelling and Measurement

Автор: Breeze
Название: Temperature and Frequency Dependence of Complex Permittivity in Metal Oxide Dielectrics: Theory, Modelling and Measurement
ISBN: 3319445456 ISBN-13(EAN): 9783319445458
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This thesis investigates the dielectric properties of metal-oxide ceramics at microwave frequencies. It also demonstrates for the first time that a theory of harmonic phonon coupling can effectively predict the complex permittivity of metal oxides as a function of temperature and frequency. Dielectric ceramics are an important class of materials for radio-frequency, microwave and emergent terahertz technologies. Their key property is complex permittivity, the real part of which permits the miniaturisation of devices and the imaginary part of which is responsible for the absorption of electromagnetic energy. Absorption limits the practical performance of many microwave devices such as filters, oscillators, passive circuits and antennas. Complex permittivity as a function of temperature for low-loss dielectrics is determined by measuring the resonant frequency of dielectric resonators and using the radial mode matching technique to extract the dielectric properties.There have been only a handful of publications on the theory of dielectric loss, and their predictions have often been unfortunately unsatisfactory when compared to measurements of real crystals, sometimes differing by whole orders of magnitude. The main reason for this is the lack of accurate data for a harmonic coupling coefficient and phonon eigenfrequencies at arbitrary q vectors in the Brillouin zone. Here, a quantum field theory of losses in dielectrics is applied, using results from density functional perturbation theory, to predict from first principles the complex permittivity of metal oxides as functions of frequency and temperature.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия