Scanning probe lithography, Ryu, Yu Kyoung Rodrigo, Javier Martinez
Автор: Hyongsok T. Soh; Kathryn Wilder Guarini; Calvin F. Название: Scanning Probe Lithography ISBN: 0792373618 ISBN-13(EAN): 9780792373612 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 23757.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Describes advances in the field of scanning probe lithography, a high resolution patterning technique that uses a sharp tip in close proximity to a sample to pattern nanometer-scale features on the sample. This book describes the historical context, the relevant inventions, and the prospects for eventual manufacturing use of this technology.
Автор: Hyongsok T. Soh; Kathryn Wilder Guarini; Calvin F. Название: Scanning Probe Lithography ISBN: 1441948945 ISBN-13(EAN): 9781441948946 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 23757.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Scanning Probe Lithography (SPL) describes recent advances in the field of scanning probe lithography, a high resolution patterning technique that uses a sharp tip in close proximity to a sample to pattern nanometer-scale features on the sample.
Автор: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Satoshi Kawata Название: Applied Scanning Probe Methods V ISBN: 3642072119 ISBN-13(EAN): 9783642072116 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 23751.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The volumes V, VI and VII will examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.
Автор: Adam Foster; Werner A. Hofer Название: Scanning Probe Microscopy ISBN: 1441923063 ISBN-13(EAN): 9781441923066 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 19589.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
Автор: Pratibha L. Gai Название: In-Situ Microscopy in Materials Research ISBN: 1461378508 ISBN-13(EAN): 9781461378501 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 30606.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Автор: Francesco Marinello; Daniele Passeri; Enrico Savio Название: Acoustic Scanning Probe Microscopy ISBN: 3642430791 ISBN-13(EAN): 9783642430794 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 16977.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This comprehensive presentation of a powerful new technology deals with everything from basic theoretical explanations to calibration, enhancement, and applications. It also compares the advantages of the process to more established scanning probe methods.
Описание: This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers` understanding and visualization.
Автор: Bharat Bhushan Название: Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology ISBN: 3662502208 ISBN-13(EAN): 9783662502204 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 40389.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book presents the physical and technical foundation of the state-of-the-art in applied scanning probe techniques. It constitutes a comprehensive overview of SPM applications. The chapters are written by leading researchers and application scientists.
Автор: Bharat Bhushan Название: Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 ISBN: 3662506017 ISBN-13(EAN): 9783662506011 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 28732.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials.
Автор: Seizo Morita Название: Roadmap of Scanning Probe Microscopy ISBN: 3642070698 ISBN-13(EAN): 9783642070693 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 19589.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Scanning tunneling microscopy has achieved remarkable progress and become the key technology for surface science. Such forecasts may help to determine the course ultimately taken and may accelerate research and development on nanotechnology and nanoscience, as well as all in SPM-related fields in the future.
Автор: T. Sakurai; Y. Watanabe Название: Advances in Scanning Probe Microscopy ISBN: 3642630847 ISBN-13(EAN): 9783642630842 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 13974.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Switzerland.
Автор: Roland Wiesendanger; Hans-Joachim G?ntherodt Название: Scanning Tunneling Microscopy III ISBN: 3540608249 ISBN-13(EAN): 9783540608240 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 15672.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: Providing an introduction to the theoretical foundations of STM and related scanning probe methods, this work outlines the various theoretical concepts developed in the past, and discusses the implications of the theoretical results for the interpretation of experimental data.
ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru