Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Advances in X-Ray Analysis, C. Grant


Варианты приобретения
Цена: 6986.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: C. Grant
Название:  Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 9781461399773
Издательство: Springer
Классификация:
ISBN-10: 1461399777
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 596
Вес: 1.05 кг.
Дата издания: 28.05.2013
Язык: English
Размер: 254 x 178 x 32
Основная тема: Chemistry
Подзаголовок: Volume 17: Proceedings of the Twenty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 22–24, 1973
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The successful application of x-r~ diffraction techniques and x-r~ spectrometry depends in large measure on the availability of dependable standards and reference data. One of the purposes of the invited papers in this 22nd Annual Denver X-Ray Conference was tc review the status of programs to prepare such standards and reference data.


Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468474030 ISBN-13(EAN): 9781468474039
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: It is interesting to observe the ever increasing versatility of X-ray analysis as evidenced by the wide range of application to the myriads of problems confronting the technological com- munity, a versatility limited only by the imagination and inge- nuity of the scientist, the designer of X-ray equipment, and the novice or student.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468476084 ISBN-13(EAN): 9781468476088
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The text of this volume had its origin in the Tenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis sponsored by the University of Denver and held August 7,8,9, 1961, at the Albany Hotel in Denver, Colorado.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Gavin R. Mallett; Marie Fay; William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468476351 ISBN-13(EAN): 9781468476354
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The papers presented in this volume of Advances in X-Ray Analysis were chosen from those presented at the Fourteenth Annual Conference on the Applications of X-Ray Analysis. These included such fields as electron-probe microanalysis, the effect of chemical combination on X-ray spectra, and the uses of soft and ultrasoft X-rays in emission analysis.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468486330 ISBN-13(EAN): 9781468486339
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Spectrochemical Analysis by X-Ray Fluorescence

Автор: Rudolf Muller
Название: Spectrochemical Analysis by X-Ray Fluorescence
ISBN: 1468417991 ISBN-13(EAN): 9781468417999
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: For this reason theoretical investigations are used exclusively as a basis for practical work and the multitude of applications, which constitute the value of the x-ray fluores- cence method, will be explained on the basis of simple theory.

Computer Simulation Tools for X-ray Analysis

Автор: S?rgio Luiz Morelh?o
Название: Computer Simulation Tools for X-ray Analysis
ISBN: 3319372963 ISBN-13(EAN): 9783319372969
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 9141.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The main goal of this book is to break down the huge barrier of difficulties faced by beginners from many fields (Engineering, Physics, Chemistry, Biology, Medicine, Material Science, etc.) in using X-rays as an analytical tool in their research.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Charles Barrett
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1461399688 ISBN-13(EAN): 9781461399681
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The application of solid-state detectors of high energy resolution to x-ray spectrometry, and the increasing use of compu- ters in both measurement and data evaluation, are giving a new stimulus to x-ray techniques in analytical chemistry.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Gregory J. McCarthy
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1461399890 ISBN-13(EAN): 9781461399896
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13060.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In keeping with recent practice, this year`s Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: William M. Mueller; Gavin R. Mallett; Marie Fay
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 146848639X ISBN-13(EAN): 9781468486391
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: knowledge increasing slowly through several centuries, accelerating rapidly during the past twenty years, culminat- ing at the present time in a virtual impossibility that one person - one communit- possibly even one nation - can hope to generate or use productively more than a minute portion of the world`s scientific knowledge.

Advances in X-ray Analysis

Автор: John B. Newkirk; Gavin R. Mallett; Heinz G. Pfeiff
Название: Advances in X-ray Analysis
ISBN: 1468486780 ISBN-13(EAN): 9781468486780
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16979.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: X-ray emission spectrography, while based on Moseley`s work, as a generally useful analytical method had its genesis in the work of Friedman, Birks, and Brooks 30 years ago.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Burton Henke
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1461399653 ISBN-13(EAN): 9781461399650
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Upon reading over the papers as presented here, one cannot help but be impressed by the steady, dynamic growth and expansion of the field of applied x-ray analysis, beginning about thirty years ago with quantitative elementary analysis and extending to the present time with dramatic and exciting applications to x-r~ astronomy.

Advances in X-Ray Analysis

Автор: Charles S. Barrett; John B. Newkirk; Gavin R. Mall
Название: Advances in X-Ray Analysis
ISBN: 1468475371 ISBN-13(EAN): 9781468475371
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The University of Denver and its staff members deserve much credit for organizing and operating this Denver X-ray Conference year after year, for there seems to be no doubt that it and the yolumes that result from it are filling a need.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия