Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

IDDQ Testing of VLSI Circuits, Ravi K. Gulati; Charles F. Hawkins


Варианты приобретения
Цена: 18167.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Ravi K. Gulati; Charles F. Hawkins
Название:  IDDQ Testing of VLSI Circuits
ISBN: 9780792393153
Издательство: Springer
Классификация:
ISBN-10: 0792393155
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 124
Вес: 0.45 кг.
Дата издания: 31.12.1992
Язык: English
Размер: 254 x 178 x 10
Основная тема: Computer Science
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: For sequential circuits, in particular, the complexity of finding suitable tests is very high. In comparison, the IDDQ test does not observe the logic states, but measures the integrated current that leaks through all gates. In other words, it is like measuring a patient`s temperature to determine the state of health.


Introduction to IDDQ Testing

Автор: S. Chakravarty; Paul J. Thadikaran
Название: Introduction to IDDQ Testing
ISBN: 0792399455 ISBN-13(EAN): 9780792399452
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Testing techniques for VLSI circuits are undergoing changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs. This volume presents the findings of research in this area.

IDDQ Testing of VLSI Circuits

Автор: Ravi K. Gulati; Charles F. Hawkins
Название: IDDQ Testing of VLSI Circuits
ISBN: 1461363772 ISBN-13(EAN): 9781461363774
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Автор: Manoj Sachdev; Jose Pineda de Gyvez
Название: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 1441942858 ISBN-13(EAN): 9781441942852
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits

Автор: Ran Wang; Krishnendu Chakrabarty
Название: Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits
ISBN: 3319547135 ISBN-13(EAN): 9783319547138
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The authors describe a set of design-for-test methods to address various challenges posed by the new generation of 2.5D ICs, including pre-bond testing of the silicon interposer, at-speed interconnect testing, built-in self-test architecture, extest scheduling, and a programmable method for low-power scan shift in SoC dies.

Thermal Testing of Integrated Circuits

Автор: J. Altet; Antonio Rubio
Название: Thermal Testing of Integrated Circuits
ISBN: 144195287X ISBN-13(EAN): 9781441952875
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14673.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits

Автор: Luciano Lavagno; Alberto L. Sangiovanni-Vincentell
Название: Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits
ISBN: 1461364108 ISBN-13(EAN): 9781461364108
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30745.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The book is intended for asynchronous hardware designers, for computer-aided tool experts, and for digital designers interested in ex- ploring the possibility of designing asynchronous circuits.

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Автор: Xiao Liu; Qiang Xu
Название: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
ISBN: 3319005324 ISBN-13(EAN): 9783319005324
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19564.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits

Автор: P. Antognetti; D.A. Antoniadis; Robert W. Dutton;
Название: Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits
ISBN: 9400968442 ISBN-13(EAN): 9789400968448
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits, Sogesta, Urbino, Italy, July 12-23, 1982

Routing Congestion in VLSI Circuits

Автор: Prashant Saxena; Rupesh S. Shelar; Sachin Sapatnek
Название: Routing Congestion in VLSI Circuits
ISBN: 0387300376 ISBN-13(EAN): 9780387300375
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22203.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This volume provides a complete understanding of the fundamental causes of routing congestion in present-day and next-generation VLSI circuits, offers techniques for estimating and relieving congestion, and provides a critical analysis of the accuracy and effectiveness of these techniques.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия