Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials, Goodhew, PJ

Автор: Zewail, Ahmed H. Thomas, John M.
Название: 4d electron microscopy
ISBN: 1848163908 ISBN-13(EAN): 9781848163904
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 12751.00 р. 18216.00 -30%
Наличие на складе: Есть (2 шт.)
Описание: The modern electron microscope yields a wealth of quantitative knowledge pertaining to structure, dynamics, and function barely matched by any other single scientific instrument. This book compares the merits of coherent electron waves with those of synchrotron radiation.

Автор: Glauert Audrey M., Lewis Peter R.
Название: Biological Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy
ISBN: 0691630127 ISBN-13(EAN): 9780691630120
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 25916.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Zurch, Michael Werner
Название: High-resolution extreme ultraviolet microscopy
ISBN: 3319123874 ISBN-13(EAN): 9783319123875
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Finally, this book presents a newly developed technique of generating structured illumination by means of so-called optical vortex beams in the extreme ultraviolet regime and proposes its general usability for super-resolution imaging.

Автор: J?rgen Thomas; Thomas Gemming
Название: Analytical Transmission Electron Microscopy
ISBN: 9401786003 ISBN-13(EAN): 9789401786003
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 10480.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Based on the authors` years of experience as instructors, this book is an introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope. Offers illustrative examples, simple models and practical hints on analytical transmission microscopy.

Автор: Sun
Название: In-Situ Transmission Electron Microscopy
ISBN: 9811968446 ISBN-13(EAN): 9789811968440
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22359.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book focuses on in-situ transmission electron microscopy (TEM), an investigatory technique used to observe a sample’s response to a given stimulus (including electron irradiation, thermal excitation, mechanical force, optical excitation, electric and magnetic fields) at the nanoscale in real time. The book introduces readers to the technical strategy behind the in-situ technique and its developments. It reviews the research frontiers of using in-situ TEM in energy conversion and storage, catalysis, nanomaterials synthesis, nanoelectronics, etc. Furthermore, it discusses the future prospects for in-situ TEM. The book offers a valuable guide for all undergraduate and graduate students who are interested in TEM characterization technology. It also serves as a reference source on cutting-edge in-situ techniques for researchers and engineers.

Автор: Page Lisa
Название: Handbook of Transmission Electron Microscopy
ISBN: 1632382830 ISBN-13(EAN): 9781632382832
Издательство: Неизвестно
Цена: 28506.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Keyse, Dr Robert
Название: Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy
ISBN: 1859960669 ISBN-13(EAN): 9781859960660
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 12248.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: David G. Robinson; David G. Robinson; K. M?hlethal
Название: Methods of Preparation for Electron Microscopy
ISBN: 354017592X ISBN-13(EAN): 9783540175926
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Many competent biological and medical research workers expressed their anxiety that objects in high vacuum would be modified due to complete dehydration and the absorbed electron energy would eventually cause degrada- tion to rudimentary carbon backbones.

Автор: Randle, Valerie
Название: The Measurement of Grain Boundary Geometry
ISBN: 0750302356 ISBN-13(EAN): 9780750302357
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 33686.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Jeanne Ayache; Luc Beaunier; Jacqueline Boumendil;
Название: Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy
ISBN: 1489998853 ISBN-13(EAN): 9781489998859
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This is the second in a two-volume handbook on sample preparation for the transmission electron microscope. It describes 14 different preparation techniques, including 22 detailed protocols for preparing thin slices for TEM analysis.

Автор: Erni Rolf
Название: Aberration-Corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2Nd Edition)
ISBN: 1783265280 ISBN-13(EAN): 9781783265282
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 14414.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

Автор: Pratibha L. Gai
Название: In-Situ Microscopy in Materials Research
ISBN: 0792399897 ISBN-13(EAN): 9780792399896
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: 2 Lorentz Microscopy 287 Observation of Superconducting Vortices 288 3. 1 Superconducting Vortices Observed by Interference Microscopy 288 3. 1 Profile Mode 288 3. 2 Transmission Mode 291 3. 2 Superconducting Vortices Observed by Lorentz Microscopy 293 3. 3 Observation of Vortex Interaction with Pinning Centers 294 3. 1 Surface Steps 295 3.