From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss, Jitendra B. Khare; Wojciech Maly

Автор: Jitendra B. Khare; Wojciech Maly
Название: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
ISBN: 146128595X ISBN-13(EAN): 9781461285953
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16979.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

Автор: Jos? Rodrigo Azambuja; Fernanda Kastensmidt; J?rge
Название: Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors
ISBN: 3319359975 ISBN-13(EAN): 9783319359977
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book describes fault tolerance techniques based on software and hardware to create hybrid techniques. The authors then discuss the best trade-off between software-based and hardware-based techniques and introduce novel hybrid techniques.

Автор: Kipp van Schooten
Название: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
ISBN: 331903328X ISBN-13(EAN): 9783319033280
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13059.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Автор: Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Название: Charged Semiconductor Defects
ISBN: 1849968209 ISBN-13(EAN): 9781849968201
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: "Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Автор: J. Chikawa; K. Sumino; K. Wada
Название: Defects and Properties of Semiconductors
ISBN: 9401086168 ISBN-13(EAN): 9789401086165
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication.

Автор: Victor Gloumov; Victor A. Perevostchikov; Vladimir
Название: Gettering Defects in Semiconductors
ISBN: 3642065708 ISBN-13(EAN): 9783642065705
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Bernard Pajot; Bernard Clerjaud
Название: Optical Absorption of Impurities and Defects in Semiconducting Crystals
ISBN: 3642430805 ISBN-13(EAN): 9783642430800
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This volume outlines how absorption spectroscopy is important to the investigation of deep-level centers introduced in semiconductors and insulators. It also explains how vibrational spectroscopy determines the atomic structure and symmetry of complexes.

Автор: Mohammad Tehranipoor; Ke Peng; Krishnendu Chakraba
Название: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
ISBN: 1489989528 ISBN-13(EAN): 9781489989529
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.